精修離子束系統(tǒng)
簡要描述:Technoorg Linda 精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍(GIB) 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當(dāng)?shù)湍軞咫x子槍集成到掃描電鏡中時(shí) ,其作用尤為明顯。有了集成離子槍 ,就可以在研究之前對(duì)樣品 進(jìn)行精修。 實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量樣品的另一個(gè)重要應(yīng)用是在雙束 SEM / FIB 系統(tǒng)中進(jìn)行 FIB 樣品制備后,對(duì) TEM 樣品進(jìn)行拋光和溫和的表面清潔。
產(chǎn)品型號(hào): GIB
所屬分類:臺(tái)式離子研磨拋光儀
更新時(shí)間:2024-09-20
廠商性質(zhì):其他
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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產(chǎn)品新舊 | 全新 |
GIB 精修離子束系統(tǒng)
用于掃描電鏡 / 雙束電鏡的氬離子束方案
Technoorg Linda 精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍(GIB) 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當(dāng)?shù)湍軞咫x子槍集成到掃描電鏡中時(shí) ,其作用尤為明顯。有了集成離子槍 ,就可以在研究之前對(duì)樣品 進(jìn)行精修。 實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量樣品的另一個(gè)重要應(yīng)用是在雙束 SEM / FIB 系統(tǒng)中進(jìn)行 FIB 樣品制備后,對(duì) TEM 樣品進(jìn)行最 終拋光和溫和的表面清潔。
可與掃描電鏡集成
帶波紋管的傳輸系統(tǒng)可通過連接管安裝到掃描電鏡上。連 接管輸出法蘭的尺寸與相應(yīng)的 SEM 端口尺寸相匹配。通 過線性傳輸系統(tǒng)提供的離子源流動(dòng)性,可實(shí)現(xiàn)理想的工作 距離(15-30 mm)。
低能量氬離子槍
低能量離子槍的直徑和長度均為 50mm。氬離子束的能 量范圍:100eV - 2kV。 2kV 時(shí)的最大束流為 70µA。離 子束為寬束,半最大全寬(FWHM)為 2mm。
半管支架
低能量離子槍安裝在半管支架中。
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