<ul id="8m0a2"></ul>
<strike id="8m0a2"></strike>
  • 熱門搜索:掃描電鏡,電子顯微鏡,細(xì)胞成像分析
    產(chǎn)品展示 / products 您的位置:網(wǎng)站首頁 > 產(chǎn)品展示 > 飛納電鏡 > 臺式電鏡粒度分析
    • Particle Metric臺式電鏡粒度分析 電子顯微鏡
      Particle Metric臺式電鏡粒度分析 電子顯微鏡

      使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng),以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

      更新時(shí)間:2024-12-26型號:Particle Metric瀏覽量:7306
    共 1 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
    • 聯(lián)系電話電話4008578882
    • 傳真傳真
    • 郵箱郵箱cici.yang@phenom-china.com
    • 地址公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號上海虹橋麗寶廣場T5,705室
    © 2025 版權(quán)所有:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司   備案號:滬ICP備12015467號-5   sitemap.xml   管理登陸   技術(shù)支持:制藥網(wǎng)       
    • 公眾號二維碼

    聯(lián)